FORESITE C·3 电子产品局部洁净度判定仪

Foresite C3局部清洁度判定仪设备---概述：

C3为电路板表面清洁度测试仪。操作界面简捷、节省测试时间、使用方法易于掌握。

C3的出现使电路板局部清洁度的判定更为方便、快捷，降低了使用者的时间成本，提高了检测效率。

是实验室检测产品洁净度，工厂在线管控产品清洁度品质的首选。

它的出现代表电子产品对清洁度新的品质要求，电子行业对洁净度品质要求的提升。

Foresite C3局部清洁度判定仪设备---特性：

*设备做工精细，外观设计简单大方

*采用更易于操作Windows系统操作界面

*耗材放置抽屉，简单实用。

*设备操作台采用优质静电材质，产品置表层不会受到静电损害及刮碰。

*设计采用可歪曲折动的测试手臂，可用手放置工作台任意位置的产品测试。

Foresite C3局部清洁度判定仪设备---工作原理：

通过对高纯水加热后输送到被测试产品表面，萃取产品表面残留的脏污残留，根据萃取溶液电流值在规定时间内的值，

判断电路板表面脏污程度，干净为“Clean”，脏为“Dirty” 。

萃取液可用于进一步测试IC离子色谱（IPC-TM650.2.3.28）

Typical areas of extraction for process evaluation:

美国FORESITE公司在美国是具有权威性的专业级检测分析实验室，提供电子行业专业的洁净度检测分析服务。

测试各式电子产品之正负离子残留值，并提供专业的检测报告。

检测方式：IPC TM 650.2.3.28 (Ionic Analysis of circuit boards,ion chrom atography method)

C3局部清洁度判定分析仪是Foresite实验室专利产品，用于测试产品局部清洁度分析。

C3局部清洁度判定分析仪用途:

*Monitoring tool for production floor

*Focus on sensitive area of concern (0.1 in2)


1st Side SMT Lov Standoff Area	2nd Slde SMT Low Standoff Area	Connector Leads From Selectie Soldering
		Additional Areas to Test You can also use the c3 to test: 1.Incoming bare boards 2.incoming components 3.Reworked component areas 4.Sites of visible corrosion
Open Holes And Vias With Kapton Tape	Board Area With No Active Circuitry