美国FORESITE公司在美国是具有权威性的专业级检测分析实验室,提供电子行业专业的洁净度检测分析服务。
测试各式电子产品之正负离子残留值,并提供专业的检测报告。
检测方式:IPC TM 650.2.3.28 (Ionic Analysis of circuit boards,ion chrom atography method)
C3局部清洁度判定分析仪是Foresite实验室专利产品,用于测试产品局部清洁度分析。
C3局部清洁度判定分析仪用途
Monitoring tool for production floor
Focus on sensitive area of concern (0.1 in2)
聚焦在问题的萃取面积为0.1in²
Foresite C3局部清洁度判定仪设备---概述:
C3为电路板表面清洁度测试仪。操作界面简捷、节省测试时间、使用方法易于掌握。
C3的出现使电路板局部清洁度的判定更为方便、快捷,降低了使用者的时间成本,提高了检测效率。
是实验室检测产品洁净度,工厂在线管控产品清洁度品质的首选。
它的出现代表电子产品对清洁度新的品质要求,电子行业对洁净度品质要求的提升。
Foresite C3局部清洁度判定仪设备---特性:
*设备做工精细,外观设计简单大方
*采用更易于操作Windows系统操作界面
*耗材放置抽屉,简单实用。
*设备操作台采用优质静电材质,产品置表层不会受到静电损害及刮碰。
*设计采用可歪曲折动的测试手臂,可用手放置工作台任意位置的产品测试。
判断电路板表面脏污程度,干净为“Clean”,脏为“Dirty” 。
萃取液可用于进一步测试IC离子色谱(IPC-TM650.2.3.28)